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測(cè)試設(shè)備
電學(xué)測(cè)試設(shè)備
熱電特性評(píng)價(jià)裝置ZEM-3系列

熱電特性評(píng)價(jià)裝置ZEM-3系列
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
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產(chǎn)品分類(lèi)ZEM-3系列熱電特性評(píng)價(jià)裝置是一種同時(shí)測(cè)量熱電材料的熱電率(塞貝克系數(shù))和電導(dǎo)率的裝置。測(cè)量溫度范圍為-80°C至1000°C,設(shè)備操作簡(jiǎn)單。
┃ 設(shè)備特點(diǎn)
采用溫度可控性?xún)?yōu)異的紅外線金像加熱爐和溫差控制用微加熱器
測(cè)量由計(jì)算機(jī)控制,可以在規(guī)定溫度下對(duì)各溫差進(jìn)行測(cè)量,也可以消除暗電動(dòng)勢(shì)等自動(dòng)測(cè)量
標(biāo)配自動(dòng)歐姆接觸檢查(V-I圖)
可選附件可用于測(cè)量薄膜
可定制為高電阻