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分析表征設(shè)備
形貌成分表征
SmartLab X射線衍射儀

SmartLab X射線衍射儀
產(chǎn)品簡介
系統(tǒng)配置豐富,高分辨θ/θ閉環(huán)測角儀驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、多位自動(dòng)換樣系統(tǒng)、包括多層膜反射鏡平行光系統(tǒng)的全自動(dòng)光學(xué)系統(tǒng)和二維陣列半導(dǎo)體探測器,配合功能齊全的控制和分析軟件,可在室溫和變溫條件下實(shí)現(xiàn)覆蓋固體粉末、薄膜、納米材料、塊體材料和液體樣品的常規(guī)衍射、掠入射衍射、in-plane衍射、X射線反射和小角X射線衍射(SAXS)等多種模式測量,可執(zhí)行高精度全自動(dòng)物質(zhì)結(jié)構(gòu)測試分析任務(wù)。
┃ 設(shè)備特點(diǎn)
高強(qiáng)度X射線光源
高能量分別率的二維探測器
豐富的CBO光學(xué)附件,全自動(dòng)光路切換和校準(zhǔn)
全新SmartLab Studio Ⅱ 軟件,與硬件結(jié)合,并且集成了眾多原位測量功能